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Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-00590-4 / 978-3319005904 / 9783319005904

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 17.07.2013

Seiten: 90

Autor(en): Kipp van Schooten

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