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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.weiterlesen

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Deutsch

ISBN: 978-3-658-26574-8 / 978-3658265748 / 9783658265748

Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH

Erscheinungsdatum: 13.11.2019

Seiten: 187

Auflage: 2

Autor(en): Peter Baumann

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