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Pattern Recognition with Support Vector Machines

First International Workshop, SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Proceedings

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-540-44016-1 / 978-3540440161 / 9783540440161

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 29.07.2002

Seiten: 428

Auflage: 1

Zielgruppe: Research

Herausgegeben von Seong-Whan Lee, Alessandro Verri

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