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Pattern Recognition with Support Vector Machines

First International Workshop, SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Proceedings

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-540-45665-0 / 978-3540456650 / 9783540456650

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 02.08.2003

Seiten: 428

Herausgegeben von Seong-Whan Lee, Alessandro Verri

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