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Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy

Probing the traps in field-effect transistors

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978- / 978-9400763913 / 9789400763913

Verlag: Springer Netherland

Erscheinungsdatum: 07.05.2013

Seiten: 101

Auflage: 1

Zielgruppe: Research

Autor(en): Seongil Im, Youn-Gyoung Chang, Jae Kim, Jae Hoon Kim

49,99 € inkl. MwSt.
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