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Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy

Probing the traps in field-effect transistors

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978- / 978-9400763920 / 9789400763920

Verlag: Springer Netherland

Erscheinungsdatum: 08.07.2014

Seiten: 101

Autor(en): Seongil Im, Youn-Gyoung Chang, Jae Kim, Jae Hoon Kim

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