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Physical Principles of Electron Microscopy

An Introduction to TEM, SEM, and AEM

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-0-387-25800-3 / 978-0387258003 / 9780387258003

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 03.08.2005

Seiten: 202

Auflage: 1

Autor(en): R.F. Egerton

171,19 € inkl. MwSt.
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