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Physical Principles of Electron Microscopy

An Introduction to TEM, SEM, and AEM

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-0-387-26016-7 / 978-0387260167 / 9780387260167

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 28.04.2006

Seiten: 202

Autor(en): R.F. Egerton

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