Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-0927-5 / 978-1441909275 / 9781441909275

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 23.11.2009

Seiten: 363

Auflage: 1

Herausgegeben von Nicola Nicolici, Patrick Girard, Xiaoqing Wen