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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4020-7235-2 / 978-1402072352 / 9781402072352

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 28.02.2003

Seiten: 178

Auflage: 1

Zielgruppe: Research

Autor(en): Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi

106,99 € inkl. MwSt.
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