Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Artikel empfehlen

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-5315-5 / 978-1441953155 / 9781441953155

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 09.12.2010

Seiten: 178

Auflage: 1

Zielgruppe: Research

Autor(en): Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zurück