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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-0-306-48731-6 / 978-0306487316 / 9780306487316

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 11.04.2006

Seiten: 178

Autor(en): Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi

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