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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry

Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-84996-674-0 / 978-1849966740 / 9781849966740

Verlag: Springer London

Erscheinungsdatum: 13.10.2010

Seiten: 162

Auflage: 1

Zielgruppe: Research

Autor(en): José A. Gutierrez, Brian S.R. Armstrong

106,99 € inkl. MwSt.
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