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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry

Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-84628-912-5 / 978-1846289125 / 9781846289125

Verlag: Springer London

Erscheinungsdatum: 23.10.2007

Seiten: 162

Auflage: 1

Zielgruppe: Research

Autor(en): José A. Gutierrez, Brian S.R. Armstrong

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