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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry

Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-84628-913-2 / 978-1846289132 / 9781846289132

Verlag: Springer London

Erscheinungsdatum: 25.10.2007

Seiten: 162

Autor(en): José A. Gutierrez, Brian S.R. Armstrong

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