Principles of Applied Remote Sensing

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-79410-5 / 978-3319794105 / 9783319794105

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 30.03.2018

Seiten: 307

Auflage: 1

Autor(en): Siamak Khorram, Cynthia F. van der Wiele, Frank H. Koch, Stacy A. C. Nelson, Matthew D. Potts