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Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales

Synchrotron X-ray Microdiffraction

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-9812873347 / 978-9812873347 / 9789812873347

Verlag: Springer Singapore

Erscheinungsdatum: 16.01.2015

Seiten: 118

Auflage: 1

Zielgruppe: Research

Autor(en): Arief Budiman, Arief Suriadi Budiman

53,49 € inkl. MwSt.
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