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Prüflastnormal für Netzrückwirkungsmesssysteme

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

In den letzten Jahrzehnten ist das Leben des Menschens durch die steigende Anzahl von elektrischen und elektronischen Produkten (EEP) deutlich vereinfacht und verbessert worden. Durch die schnelle Zunahme der am Netz betriebenen EEP müssen die Power Quality, bzw. die Netzrückwirkungen im Niederspannungsnetz, die durch EEP verursacht werden, zunehmende Aufmerksamkeit erhalten. Die Netzrückwirkungen von den EEP wurden mit Netzrückwirkungsmesssystemen geprüft, die aus drei Einzelkomponenten aufgebaut sind. Ein Test des Gesamtsystems wurde anfangs nicht durchgeführt, da hierfür bisher keine geeigneten Generatoren zur Verfügung stehen. In dieser Arbeit wurden Prototypen von Prüflasten entwickelt, sowohl für Harmonische- als auch für Flickermessungen, die es ermöglichen, die Netzrückwirkungsmesssysteme als ganzes System zu prüfen. Als Optimierung wurden Temperaturregelungssysteme insbesondere für die FPL entwickelt. Die Parameter der PI-Reglung wurden individuell optimiert. Eine weitere Optimierung ist der EMV-Schutz, besonders bei den FPL, da beim Umschalten der FPL die Gefahr besteht, dass die digitalen Schaltungen gestört werden könnten. Mithilfe dieser Optimierung sind die digitalen Schaltungen geschützt. Weiterhin wurden Simulationsmodelle für alle Prüflasten mithilfe einer präzisen LCR-Brücke einschließlich der Berücksichtigung der induktiven Kompensation des Eingangskreises modelliert. Vergleichsmethoden bzw. Validierungsmethoden für die Simulationsmodelle im Vergleich zu den HW-Aufbauten wurden individuell entwickelt. Für diese Methoden bzw. die Analyseabläufe wurden zugehörige Programme, z.B. Auswertungsprogramme, Resampling-Programme, Nachbildungsprogramme usw., entwickelt. Mithilfe einiger Programme wurden die Auswertungen teilweise automatisiert und Zeit gespart. Nach der Analyse mit den obengenannten Methoden wurden die Ergebnisse unter Berücksichtigung der Messunsicherheit in dieser Arbeit präsentiert. Die Sollwerte der HPL und der FPL, als sie in einem idealen Netzrückwirkungsmesssystem eingeschlossen sind, wurden mithilfe der Simulationsmodelle simuliert und ausgewertet. Ein Netzrückwirkungsmesssystem kann aber nicht ideal sein, deswegen sind in dieser Arbeit Phänomene bei unterschiedlichen Störungen untersucht worden. Die Harmonischen aus der Leistungsquelle und Netzimpedanz zwischen der Leistungsquelle und dem Anschlusspunkt des EEPs bei einem Netzrückwirkungsmesssystem wurden als Hauptstörungen in dieser Arbeit untersucht. In dieser Arbeit wurden die Einflüsse durch zahlreiche unterschiedliche Störungen analysiert, trotzdem besteht zukünftig auch weiterhin der Bedarf daran zu forschen und z.B. die Auswirkungen von mehreren Harmonischen gleichzeitig zu analysieren.weiterlesen

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Deutsch

ISBN: 978-3-9672919-1-9 / 978-3967291919 / 9783967291919

Verlag: Mensch & Buch

Erscheinungsdatum: 12.01.2023

Seiten: 178

Auflage: 1

Autor(en): Ying Su

79,90 € inkl. MwSt.
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