Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Artikel empfehlen

Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms

Theory and Practice

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-031-59810-4 / 978-3031598104 / 9783031598104

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 31.05.2024

Seiten: 119

Auflage: 1

Autor(en): Yen-Wei Chen, Xiang Ruan, Rahul Kumar Jain

160,49 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zurück