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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978- / 978-9400776623 / 9789400776623

Verlag: Springer Netherland

Erscheinungsdatum: 29.10.2013

Seiten: 187

Auflage: 1

Autor(en): Jacopo Franco, Ben Kaczer, Guido Groeseneken

106,99 € inkl. MwSt.
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