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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978- / 978-9400776630 / 9789400776630

Verlag: Springer Netherland

Erscheinungsdatum: 19.10.2013

Seiten: 187

Autor(en): Jacopo Franco, Ben Kaczer, Guido Groeseneken

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