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Reliability of Microtechnology

Interconnects, Devices and Systems

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-5759-7 / 978-1441957597 / 9781441957597

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 14.02.2011

Seiten: 204

Auflage: 1

Autor(en): Johan Liu, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall, Cristina Andersson

160,49 € inkl. MwSt.
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