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Reliability of Microtechnology

Interconnects, Devices and Systems

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-5760-3 / 978-1441957603 / 9781441957603

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 07.02.2011

Seiten: 204

Autor(en): Johan Liu, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall, Cristina Andersson

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