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Residual Stress

Measurement by Diffraction and Interpretation

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4613-9571-3 / 978-1461395713 / 9781461395713

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 01.07.2012

Seiten: 276

Auflage: 1

Autor(en): Ismail C. Noyan, Jerome B. Cohen

139,09 € inkl. MwSt.
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