RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-030-77774-6 / 978-3030777746 / 9783030777746

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 16.12.2021

Seiten: 168

Auflage: 1

Autor(en): Keith A. Jenkins