RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-030-77777-7 / 978-3030777777 / 9783030777777

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 17.12.2022

Seiten: 168

Auflage: 1

Autor(en): Keith A. Jenkins