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Scanning Probe Microscopy

Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-0-387-40090-7 / 978-0387400907 / 9780387400907

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 28.06.2006

Seiten: 282

Auflage: 1

Autor(en): Adam Foster, Werner A. Hofer

160,49 € inkl. MwSt.
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