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Scanning Probe Microscopy

Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-662-45240-0 / 978-3662452400 / 9783662452400

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 24.02.2015

Seiten: 382

Autor(en): Bert Voigtlaender, Bert Voigtländer

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