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Scanning Probe Microscopy

Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-0-387-28668-6 / 978-0387286686 / 9780387286686

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 03.04.2007

Seiten: 980

Autor(en): Alexei Gruverman, Sergei V. Kalinin

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