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Scanning Probe Microscopy

Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-0-387-28667-9 / 978-0387286679 / 9780387286679

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 18.12.2006

Seiten: 980

Auflage: 1

Zielgruppe: Research

Autor(en): Alexei Gruverman, Sergei V. Kalinin

320,99 € inkl. MwSt.
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