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Scanning Probe Microscopy

Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-2306-6 / 978-1441923066 / 9781441923066

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 23.11.2010

Seiten: 282

Auflage: 1

Autor(en): Adam Foster, Werner A. Hofer

160,49 € inkl. MwSt.
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