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Scanning Probe Microscopy

Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-662-45239-4 / 978-3662452394 / 9783662452394

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 23.03.2015

Seiten: 382

Auflage: 1

Autor(en): Bert Voigtlaender, Bert Voigtländer

181,89 € inkl. MwSt.
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