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Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


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Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-642-61871-0 / 978-3642618710 / 9783642618710

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 11.11.2013

Seiten: 300

Herausgegeben von A. Benninghoven, C.A. Jr. Evans, R.A. Powell, R. Shimizu, H.A. Storms

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