Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen
Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen
Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)