Signal Measurement and Estimation Techniques for Micro and Nanotechnology

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-9945-0 / 978-1441999450 / 9781441999450

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 25.07.2011

Seiten: 242

Auflage: 1

Herausgegeben von Cédric Clévy, Micky Rakotondrabe, Nicolas Chaillet