Signal Measurement and Estimation Techniques for Micro and Nanotechnology

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4899-9039-6 / 978-1489990396 / 9781489990396

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 26.11.2014

Seiten: 242

Auflage: 1

Herausgegeben von Cédric Clévy, Micky Rakotondrabe, Nicolas Chaillet