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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-540-37241-7 / 978-3540372417 / 9783540372417

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 09.08.2006

Seiten: 939

Herausgegeben von Fabio Roli, Ana Fred, Dit-Yan Yeung, Dick de Ridder, James T. Kwok

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