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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-49054-0 / 978-3319490540 / 9783319490540

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 05.11.2016

Seiten: 588

Auflage: 1

Herausgegeben von Richard Wilson, Marco Loog, Francisco Escolano, Antonio Robles-Kelly, Battista Biggio

53,49 € inkl. MwSt.
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