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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-49055-7 / 978-3319490557 / 9783319490557

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 04.11.2016

Seiten: 588

Herausgegeben von Richard Wilson, Marco Loog, Francisco Escolano, Antonio Robles-Kelly, Battista Biggio

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