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Theory of Defects in Semiconductors

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-540-33400-2 / 978-3540334002 / 9783540334002

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 18.10.2006

Seiten: 295

Auflage: 1

Herausgegeben von David A. Drabold, Stefan Estreicher

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