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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device. weiterlesen

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Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-9811931321 / 978-9811931321 / 9789811931321

Verlag: Springer Singapore

Erscheinungsdatum: 08.07.2022

Seiten: 172

Autor(en): Jun Zhang, Cheng Qian, Rui Du, Xiong Du, Gaoxian Li, Yaoyi Yu

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