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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-0-7923-9025-1 / 978-0792390251 / 9780792390251

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 30.06.1989

Seiten: 148

Auflage: 1

Autor(en): Kwang-Ting (Tim) Cheng, Vishwani D. Agrawal

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