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Physikalisch-technischer Teil

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Deutsch

ISBN: 978-3-662-01991-7 / 978-3662019917 / 9783662019917

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 12.06.2019

Seiten: 1490

Autor(en): Wolfgang Bargmann, Gottfried Möllenstedt, International Conference on Electron Microscopy, Heinz Niehrs, Ernst Ruska

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