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VLSI Design and Test

21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29-July 2, 2017, Revised Selected Papers

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-9811074707 / 978-9811074707 / 9789811074707

Verlag: Springer Singapore

Erscheinungsdatum: 21.12.2017

Seiten: 815

Herausgegeben von Brajesh Kumar Kaushik, Virendra Singh, Sudeb Dasgupta

96,29 € inkl. MwSt.
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