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VLSI Design and Test

23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-9813297678 / 978-9813297678 / 9789813297678

Verlag: Springer Singapore

Erscheinungsdatum: 17.08.2019

Seiten: 775

Herausgegeben von Rohit Sharma, Virendra Singh, Sudeb Dasgupta, Anirban Sengupta, Santosh Kumar Vishvakarma

106,99 € inkl. MwSt.
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