Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Artikel empfehlen

VLSI Design and Test for Systems Dependability

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-4-431-56594-9 / 978-4431565949 / 9784431565949

Verlag: Springer Tokyo

Erscheinungsdatum: 20.07.2018

Seiten: 800

Herausgegeben von Shojiro Asai

234,33 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zurück