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Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Sprache(n): Deutsch

ISBN: 978-3-662-22845-6 / 978-3662228456 / 9783662228456

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 01.01.1969

Seiten: 612

Auflage: 1

Autor(en): Gottfried Möllenstedt

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