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Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Deutsch

ISBN: 978-3-662-24778-5 / 978-3662247785 / 9783662247785

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 02.07.2013

Seiten: 612

Autor(en): Gottfried Möllenstedt

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