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X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures

Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures.weiterlesen

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-642-74804-2 / 978-3642748042 / 9783642748042

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 13.12.2011

Seiten: 371

Auflage: 1

Autor(en): Victor A. Drits, Cyril Tchoubar
Unterstützt von Gerard Besson, Alexander S. Bookin, Francoise Rousseaux, Boris A. Sakharov, Denise Tchoubar
Übersetzt von R. Setton
Vorwort von Andre Guinier

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