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X-Ray Structure Analysis

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

This book offers a compact overview on crystallography, symmetry, and applications of symmetry concepts. The author explains the theory behind scattering and diffraction of electromagnetic radiation. X-ray diffraction on single crystals as well as quantitative evaluation of powder patterns are discussed. The book also introduces applications of group theory and tensor properties of crystals. weiterlesen

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Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-11-061070-3 / 978-3110610703 / 9783110610703

Verlag: De Gruyter

Erscheinungsdatum: 22.11.2021

Seiten: 250

Auflage: 1

Autor(en): Theo Siegrist

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